青島市高低溫沖擊試驗箱/小型溫度沖擊箱滿足試驗方法 GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007) 低溫試驗方法 Ab GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗方法Bb GB2423.22-87溫度變化試驗方法 GJB150.5-86溫度沖擊試驗 GJB360.7-87溫度沖擊試驗 GJB367.2-87溫度沖擊試驗 (每立方米負載不大于
智能冷熱沖擊試驗箱/冷熱沖擊試驗箱價格產品用途 該產品適用于電子元器件的安性能測試提供可靠性試驗、產品篩選試驗等,同時通過此裝備試驗,可提高產品的可靠性和進行產品的質量控制。 二箱式:上部為高溫箱,下部為低溫箱,兩箱之間由樣品架連結,經氣動系統在兩箱間切換。 三箱式:該沖擊試驗箱為待測品靜置之冷熱交替沖擊方式,廣泛使用于電子零組件測試,半導體,電子線路板,金屬化學,材料等測試設備。試驗箱下部為
低溫試驗沖擊機廠家/低溫冷凍試驗箱技術參數: 1.型號:3AP-CJ-50C;3AP-CJ-80C;3AP-CJ-100C;3AP-CJ-150C;3AP-CJ-250C; 2.內箱尺寸:35×35×40cm;50×40×40cm;60×40×60cm;60×50×50cm;70×60×60cm; 3.測試設備可選擇的沖擊溫度有:A: -40℃~150℃; B:-55℃~150℃;C:-65℃~1
冷熱溫沖擊試驗箱/冷熱沖擊溫控箱用途: 冷熱沖擊箱廣泛用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑料等行業,防工業、航天、兵工業、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產品于熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害,可確認產品的質量,從的IC到重機械的組件,可作為其產品改進的依據或參考。 冷熱溫沖擊試驗箱/
led環境溫度沖擊試驗箱是樣的意思,指向同設備”冷熱沖擊試驗箱”的別稱。因為常用于led產品行業,所以被冠上使用產品+設備名稱。本設備適用于測試led產品在瞬間下經熱溫和冷溫的連續環境下所能承受的程度,即以在Z短時間內試驗led成品或配件、led顯示屏、led燈具等相關產品因熱脹冷縮所引起的化學變化和物理傷害。
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